Yago Esquíroz - Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas
DOI:
https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202512179Resumen
Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas
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Publicado
2025-07-28
Número
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Pósteres
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Cómo citar
Yago Esquíroz - Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas. (2025). Jornada De Jóvenes Investigadores Del I3A, 13. https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202512179
