MARQUÉS, J. Jorge Marqués - Caracterización experimental de resistencias integradas nano-CMOS a temperatura criogénica. Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A, [S. l.], v. 11, 2023. DOI: 10.26754/jjii3a.20239455. Disponível em: https://papiro.unizar.es/ojs/index.php/jji3a/article/view/9455. Acesso em: 14 jul. 2024.