[1]
D. Pereira Leite, E. Bolea-Fernandez, A. Rúa Ibarz, M. Resano, F. Vanhaecke, y M. Aramendía, «Characterization of SiO2 Nanoparticles by Single Particle - Inductively Coupled Plasma – Tandem Mass Spectroscopy», Jorn. jovenes investig. I3A, vol. 5, n.º 1, jun. 2017.