Yago Esquíroz - Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas

Authors

DOI:

https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202512179

Abstract

Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas

Downloads

Download data is not yet available.

Downloads

Published

2025-07-28

Issue

Vol. 13 (2025): Actas de la XIV Jornada de Jóvenes Investigadores e Investigadoras del I3A - 25 de junio de 2025

Section

Pósteres

License

Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

How to Cite

Yago Esquíroz - Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas. (2025). Jornada De Jóvenes Investigadores Del I3A, 13. https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202512179