Caracterización experimental de resistencias integradas nano-CMOS a temperatura criogénica - Marqués-García, Jorge; Pérez-Bailon, Jorge; Sánchez Azqueta, Carlos (Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A, 2023)
Este trabajo estudia el comportamiento de resistencias integradas en tecnología CMOS en un rango de temperaturas que abarca de temperatura ambiente hasta ultra-baja temperatura (4 K). Se demuestra que el coeficiente de temperatura α no puede ser aproximado de forma lineal aun cumpliendo la condición de aproximación (αΔT<<1) para temperaturas criogénicas.