Caracterización experimental de dispositivos nanoelectrónicos en el rango criogénico - Tarancón Cebrián, Miguel; Pérez-Bailón, Jorge; Sánchez Azqueta, Carlos (Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A, 2022)
En este trabajo se presenta la caracterización experimental del comportamiento a distintas temperaturas de transistores integrados en un circuito integrado comercial en tecnología CMOS. El rango de temperaturas de interés abarca el habitual de operación de dichos dispositivos (de -40 ºC a +80 ºC) e incluye también la caracterización a ultra-baja tempertura hasta el régimen criogénico a 4 K.