Y. Esquíroz-Olloqui, J. Pérez-Bailón, S. Celma, y C. Sánchez-Azqueta, «Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas», Jorn. jovenes investig. I3A, vol. 13, jul. 2025, doi: 10.26754/jji-i3a.202511961.