Esquíroz-Olloqui, Yago, et al. «Efecto De Ciclos De Stress Térmico Hasta El Régimen Criogénico Profundo En Resistencias CMOS Integradas». Jornada De Jóvenes Investigadores Del I3A, vol. 13, julio de 2025, https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202511961.