Esquíroz-Olloqui, Yago, Jorge Pérez-Bailón, Santiago Celma, y Carlos Sánchez-Azqueta. «Efecto De Ciclos De Stress Térmico Hasta El Régimen Criogénico Profundo En Resistencias CMOS Integradas». Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A 13 (julio 28, 2025). Accedido diciembre 5, 2025. https://papiro.unizar.es/ojs/index.php/jji3a/article/view/11961.