Vanhaecke, Frank, Department of Analytical Chemistry, Ghent University, Campus Sterre, Krijgslaan 281-S12, 9000 Ghent, Belgium,

• Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A Vol. 5: Actas de la VI Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A - 2 de junio de 2017 - Artículos (Procesos y Reciclado)
  Characterization of SiO2 Nanoparticles by Single Particle - Inductively Coupled Plasma – Tandem Mass Spectroscopy
  Resumen  PDF