Caracterización experimental de resistencias integradas nano-CMOS a temperatura criogénica
DOI:
https://doi.org/10.26754/jjii3a.20239072Resumen
Este trabajo estudia el comportamiento de resistencias integradas en tecnología CMOS en un rango de temperaturas que abarca de temperatura ambiente hasta ultra-baja temperatura (4 K). Se demuestra que el coeficiente de temperatura α no puede ser aproximado de forma lineal aun cumpliendo la condición de aproximación (αΔT<<1) para temperaturas criogénicas.
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Publicado
2023-07-07
Cómo citar
Marqués-García, J., Pérez-Bailon, J. ., & Sánchez Azqueta, C. . (2023). Caracterización experimental de resistencias integradas nano-CMOS a temperatura criogénica. Jornada De Jóvenes Investigadores Del I3A, 11. https://doi.org/10.26754/jjii3a.20239072
Número
Sección
Artículos (Tecnologías de la Información y las Comunicaciones)
Licencia
Derechos de autor 2023 Jorge Marqués-García, Jorge Pérez-Bailon, Carlos Sánchez Azqueta
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial 4.0.
